无码av动漫精品专区,5D肉蒲团之性战奶水,久久精品国产福利一区二区,亚洲中文精品久久久久久不卡

當前位置:主頁 > 技術(shù)文章 > XRD技術(shù)在測量顆粒細小極易形成團納米顆粒中的優(yōu)勢

XRD技術(shù)在測量顆粒細小極易形成團納米顆粒中的優(yōu)勢

更新時間:2022-11-21 點擊次數(shù):1057

X射線衍射儀技術(shù)(XRD)可為客戶解決的問題:


(1)當材料由多種結(jié)晶成分組成,需區(qū)分各成分所占比例,可使用XRD物相鑒定功能,分析各結(jié)晶相的比例。


(2)很多材料的性能由結(jié)晶程度決定,可使用XRD結(jié)晶度分析,確定材料的結(jié)晶程度。



(3)新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù),使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù),為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗證指標。



(4)產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象,可能涉及微觀應(yīng)力方面影響,使用XRD可以快捷測定微觀應(yīng)力。



(5)納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。

掃一掃,加微信

版權(quán)所有 © 2025北京來亨科學儀器有限公司
備案號:京ICP備2024080360號-1 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸 sitemap.xml